Патент на изобретение №2219528

Published by on

РОССИЙСКАЯ ФЕДЕРАЦИЯ

ФЕДЕРАЛЬНАЯ СЛУЖБА
ПО ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНОЙ СОБСТВЕННОСТИ,
ПАТЕНТАМ И ТОВАРНЫМ ЗНАКАМ

(19)

(11)

2219528

(13)

(51) МПК ⁷
_G01N23/06

(12) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К ПАТЕНТУ

Статус: по данным на 18.03.2011 – может прекратить свое действие

(21), (22) Заявка: 2003106158/12, 05.03.2003

(24) Дата начала отсчета срока действия патента:

05.03.2003

(45) Опубликовано: 20.12.2003

(56) Список документов, цитированных в отчете о
поиске:
МИТРОФАНОВ С.И. Исследование руд на обогатимость. – М.: ГНГИ литературы по черной и цветной металлургии, 1954, с.36-37. RU 2142127 C1, 27.11.1999. RU 2122723 C1, 27.11.1998. RU 2171980 С2, 10.08.2001. BG 62534 A, 31.01.2000.

Адрес для переписки:

119049, Москва, Ленинский пр-т, 4, МИСиС, отдел защиты интеллектуальной собственности

(72) Автор(ы):

Корсак Л.Л.,
Лаптев А.И.,
Сорокин М.Н.,
Бобров А.Н.,
Боброва О.В.

(73) Патентообладатель(и):

Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования “Московский государственный институт стали и сплавов” (технологический университет)

(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГРАНУЛОМЕТРИЧЕСКОГО СОСТАВА ТОНКОДИСПЕРСНОГО МАТЕРИАЛА

(57) Реферат:

Способ может быть использован во всех отраслях народного хозяйства для контроля качества тонкодисперсных минеральных порошков. Гранулометрический состав тонкого материала определяют путем сегрегации навески его в воде в заданные промежутки времени при постоянном уровне пульпы в емкости с последующим расчетом содержания отдельных классов крупности в исходном материале. Содержание отдельных классов определяют по коэффициенту поглощения низкоэнергетического гамма-излучения. 2 ил., 1 табл.

Текст описания в факсимильном виде (см. графическую часть)е

Формула изобретения

Способ определения гранулометрического состава тонкого материала путем сегрегации навески его в воде в заданные промежутки времени при постоянном уровне пульпы в емкости с последующим расчетом содержания отдельных классов крупности в исходном материале, отличающийся тем, что содержание отдельных классов определяют по коэффициенту поглощения низкоэнергетического гамма-излучения.

РИСУНКИ

Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4, Рисунок 5, Рисунок 6