Патент на изобретение №2213985
|
||||||||||||||||||||||||||
(54) УСТРОЙСТВО НАПРАВЛЕННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ
(57) Реферат: Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано в светотехнических устройствах транспортных средств. Устройство содержит источник света, размещенный у торца световода. Световод выполнен в виде клина с выходным пропускающим и отражающим микрорельефами на его поверхностях. Выходной пропускающий микрорельеф может быть выполнен в виде растра фокусирующих микролинз, или растра рассеивающих микролинз, или растра скрещенных микролинз. Отражающий микрорельеф может быть выполнен в виде растра квазидифракционных призм. Уменьшена мощность источника света, улучшена ремонтопригодность устройства, обеспечена возможность формирования различных диаграмм направленности, например, Z-образной световой границы для уменьшения ослепления встречных водителей, уменьшены габариты. 5 з.п.ф-лы, 4 ил. Текст описания в факсимильном виде (см. графическую часть). Формула изобретения 1. Устройство направленного излучения, состоящее из световода и размещенного у его торца источника света, отличающееся тем, что световод выполнен в виде клина с выходным пропускающим и отражающим микрорельефами на его поверхностях. 2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что выходной пропускающий микрорельеф выполнен в виде растра фокусирующих микролинз, высота и форма зон которых определяются выражением ![]() где h – высота пропускающего микрорельефа; (u, v) – декартовы координаты в плоскости выходного пропускающего микрорельефа с началом в его центре (-А/2 ![]() ![]() ![]() ![]() n – показатель преломления материала; К=[А/а]+1, L=[B/b]+1, [x] – целая часть от х; А и В – размеры выходного пропускающего микрорельефа; a и b – размеры микролинз a = 2ftg ![]() ![]() f – фокусное расстояние микролинз; ![]() ![]() m=1,2,3…. целое число; ![]() h0 – масштабная константа; ![]() (uk, vl) – координаты центров микролинз, uk=-A/2+(k-0,5)a, vl=-B/2+(l-0,5)b; k, l, i – индексы суммирования. 3. Устройство по п.1, отличающееся тем, что выходной пропускающий микрорельеф выполнен в виде растра рассеивающих микролинз, высота которых и форма зон определяются выражением ![]() где h – высота пропускающего микрорельефа; (u, v) – декартовы координаты в плоскости выходного пропускающего микрорельефа с началом в его центре (-А/2 ![]() ![]() ![]() ![]() n – показатель преломления материала; К=[А/а]+1, L=[B/b]+1, [x] – целая часть от х; А и В – размеры выходного пропускающего микрорельефа; а и b – размеры микролинз, a = 2ftg ![]() ![]() f – фокусное расстояние микролинз; ![]() ![]() m=1,2,3….целое число; ![]() ![]() (uk, vl) – координаты центров микролинз, uk=-A/2+(k-0,5)a, vl=-B/2+(l-0,5)b, k, l, i – индексы суммирования. 4. Устройство по п.1, отличающееся тем, что выходной пропускающий микрорельеф выполнен в виде растра скрещенных микролинз, высота которых и форма зон определяются выражением ![]() где h – высота пропускающего микрорельефа; (u, v) – декартовы координаты в плоскости выходного пропускающего микрорельефа с началом в его центре (-А/2 ![]() ![]() ![]() ![]() n – показатель преломления материала; К=[А/а]+1, L=[B/b]+1, [x] – целая часть от х; А и В – размеры выходного пропускающего микрорельефа; а и b – размеры микролинз; fu = a/2tg( ![]() ![]() ![]() ![]() m=1,2,3…. целое число; ![]() h0 – масштабная константа; ![]() (uk, vl) – координаты центров микролинз, uk=-А/2+(k-0,5)a, vl=-В/2+(l-0,5)а; k, l, i – индексы суммирования. 5. Устройство по п.1, отличающееся тем, что выходной пропускающий микрорельеф выполнен в виде растра скрещенных рассеивающих микролинз, высота которых и форма зон определяются выражением ![]() где h – высота пропускающего микрорельефа; (u, v) – декартовы координаты в плоскости выходного пропускающего микрорельефа с началом в его центре (-А/2 ![]() ![]() ![]() ![]() n – показатель преломления материала; K=[А/а]+1, L=[B/b]+1, [x] – целая часть от х; А и В – размеры выходного пропускающего микрорельефа; а и b – размеры микролинз; fu = a/2tg( ![]() ![]() ![]() ![]() m=1, 2, 3 – целое число; ![]() ![]() (uk, vl) – координаты центров микролинз, uk=-А/2+(k-0,5)a, vl=-B/2+(l-0,5)a, k, l, i – индексы суммирования. 6. Устройство по п.1, отличающееся тем, что отражающий микрорельеф выполнен в виде растра квазидифракционных призм, высота и форма зон которых определяются выражением ![]() где Н – высота отражающего микрорельефа; (х, у) – декартовы координаты в плоскости отражающего микрорельефа с началом в ее центре (-С/2 ![]() ![]() ![]() ![]() M=C/d – количество квазидифракционных призм; ![]() C=A/cos ![]() В – ширина отражающего микрорельефа; d – период растра; ![]() хi=-С/2+(i-0,5)d – центр призм; ![]() ![]() а=[d(tg ![]() ![]() ![]() ![]()
QB4A Регистрация лицензионного договора на использование изобретения
Лицензиар(ы): Институт систем обработки изображений Российской академии наук (ИСОИ РАН)
Лицензиат(ы): Общество с ограниченной ответственностью “КОМПЛАНАР”
Договор № РД0034159 зарегистрирован 21.03.2008
Извещение опубликовано: 10.05.2008 БИ: 13/2008
* ИЛ – исключительная лицензия НИЛ – неисключительная лицензия
|
||||||||||||||||||||||||||