Патент на изобретение №2189664

Published by on




РОССИЙСКАЯ ФЕДЕРАЦИЯ



ФЕДЕРАЛЬНАЯ СЛУЖБА
ПО ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНОЙ СОБСТВЕННОСТИ,
ПАТЕНТАМ И ТОВАРНЫМ ЗНАКАМ
(19) RU (11) 2189664 (13) C2
(51) МПК 7
H01L21/461
(12) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К ПАТЕНТУ

Статус: по данным на 28.04.2011 – прекратил действие

(21), (22) Заявка: 2000119807/28, 24.07.2000

(24) Дата начала отсчета срока действия патента:

24.07.2000

(45) Опубликовано: 20.09.2002

(56) Список документов, цитированных в отчете о
поиске:
Окунев А.О. Рентгенологографический анализ дефектов структуры монокристаллического карбида кремния. Автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физ.-матем. наук, НовГУ им. Ярослава Мудрого. – Новгород, 1999, с.16-17. SU 1293914 А1, 09.08.1995. RU 1715133 С, 20.08.1995.

Адрес для переписки:

173003, г.Новгород, ул. Б.Санкт-Петербургская, 41, НовГУ, отдел интеллектуальной собственности

(71) Заявитель(и):

Карачинов Владимир Александрович

(72) Автор(ы):

Карачинов В.А.

(73) Патентообладатель(и):

Карачинов Владимир Александрович

(54) СПОСОБ ЭРОЗИОННОГО КОПИРОВАНИЯ КАРБИДОКРЕМНИЕВЫХ СТРУКТУР


(57) Реферат:

Использование: в технологии электронного приборостроения, а именно в способах размерного профилирования кристаллов карбида кремния для получения структур различной конфигурации. Сущность изобретения: способ эрозионного копирования карбидокремниевых структур, включающий создание на одной из сторон подложки электропроводящего слоя с проводимостью не менее 710-1 Ом-1см-1 и последующее инициирование электроискрового разряда в водной среде между полупроводниковой подложкой и металлическим электродом. Используют несколько подложек карбида кремния, на всех поверхностях которых создают электропроводящий слой, а перед инициированием электрического разряда подложки собирают в виде пакета и закрепляют в электрод-держатель. Техническим результатом изобретения является повышение производительности и универсальности способа. 2 з.п.ф-лы, 1 ил.


Изобретение относится к технологии электронного приборостроения, а именно к способам размерного профилирования кристаллов карбида кремния, и может быть использовано для получения структур (деталей) различной конфигурации.

Известен механический способ копирования деталей из полупроводникового карбида кремния, основанный на формировании в исходном кристалле системы сквозных резов по жесткому алгоритму с помощью алмазосодержащих дисков (см. Окунев А. О. Рентгенотопографический анализ дефектов структуры монокристаллического карбида кремния – Автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физ. – матем. наук, НовГУ им. Ярослава Мудрого, Новгород, 1999, с. 16-17).

Недостатком известного способа является то, что он не позволяет получать резы криволинейной формы и шириной менее 150 мкм. Кроме того, из-за быстрого старения (износа) диска невозможно воспроизводимо получать необходимую точность размеров деталей.

Задачей предлагаемого изобретения является повышение производительности и универсальности способа.

Для решения данной задачи предложен способ эрозионного копирования карбидокремниевых структур, заключающийся в том, что в известном способе резки полупроводниковых материалов, включающем создание на одной из сторон подложки электропроводящего слоя с проводимостью не менее 710-3 Ом-1см-1 и последующее инициирование электроискрового разряда в водной среде между полупроводниковой подложкой и металлическим электродом, используют несколько подложек карбида кремния, на всех поверхностях которых создают электропроводящий слой, а перед инициированием электрического разряда подложки собирают в виде пакета и закрепляют в электрод-держатель.

На чертеже представлен один из возможных вариантов реализации способа.

На изображении и в тексте приняты следующие обозначения:
1 – пакет пластинчатых кристаллов SiС;
2 – электропроводящий слой;
3 – профилирующий электрод;
4 – электрод-держатель;
5 – элемент крепежа.

Способ осуществляется следующим образом.

Предварительно на всех поверхностях каждого из трех кристаллов карбида кремния 1 создают электропроводящий слой 2 с проводимостью не менее 710-3 Ом-1см-1 в виде материала, способного образовывать твердые растворы с кремнием. Из кристаллов формируют пакет, который крепится с помощью элемента 5 к электроду-держателю 4.

В промежутке между профилирующим электродом 3 и пакетом кристаллов, заполненным водой, инициируется электрический разряд, вызывающий эрозию SiС, которая может сопровождаться образованием жидкой фазы на основе кремния в соответствии с уравнениями
2SiС(тв)–>Si(ж)+SiС2 (г)
SiС(тв)–>Si(ж)(тв)
(Самсонов Г. В., Виницкий Н.М. Тугоплавкие соединения, М.: Металлургия, 1976, с. 168) на поверхности кристалла в области эрозионного фронта. При этом расплав взаимодействует с материалом электропроводящего слоя и вызывает сваривание (соединение) копируемых деталей по границе контакта кристаллов, входящих в пакет.

Для того чтобы повысить прочность соединяемых структур в процессе копирования, собранный пакет из подложек SiС с электропроводящим слоем может быть предварительно подвергнут операции термокомпрессии (Курносов А.Н., Юдин В.В., Технология производства полупроводниковых приборов, М.:, Высшая школа, 1974, с. 285-290). В результате подложки оказываются приварены друг к другу по всей площади электропроводящего слоя. Это способствует также возможному увеличению числа подложек в пакете за счет снижения омического сопротивления на границах.

Для сокращения времени копирования структур, форма и размеры которых уже определены морфологией подложки, в данном способе может быть инициирован электрический разряд в режиме ударного разрушения. В результате образуется ударная звуковая волна, которая взаимодействует с пакетом подложек и вызывает скалывание структур согласно существующей морфологии подложки (Юткин Л. А. Электрогидравлический эффект, М.-Л.: Машиностроение, 1955, 50 с.).

Пример 1.

Эрозионное копирование деталей в виде пластинок квадратной формы 1 х 1 х 0,45 мм проводилось на промышленной установке ЭВ00.000 с генератором ГКИ-250. В качестве профилирующего электрода использовалась латунная проволока ДКРПМКТЛ 63 ГОСТ 1066-80 диаметром (d) 100 мкм. Электротехнологические режимы: частота следования импульсов (f) 18 кГц; напряжение холостого хода (Uxx) 0,5 кВ; значение рабочего тока (Iр) 200 мА; рабочее напряжение (Up) 6 В.

В качестве межэлектродной среды использовалась водопроводная вода.

Пакет собирался из трех монокристаллов карбида кремния следующих политипов: 6Н, 4Н, 15R. Концентрация некомпенсированных доноров составляла Nd-Na51017см-3. Толщина кристаллов (h) 450 мкм, диаметр (d) 10 мм.

Электропроводящий слой формировался на основе никеля с помощью вакуумного термического напыления. В результате были получены структуры гетерополитиповой композиции (6Н) SiC-(4Н)SiC-(15R)SiC, прочно соединенные по области реза. Взаимодействие расплава на основе кремния в процессе копирования частично травило SiC, что способствовало повышению качества поверхности, подвергшейся эрозионному воздействию.

Пример 2.

Эрозионное копирование деталей в виде пластинок квадратной формы 0,5х0,5х0,45 мм проводилось на промышленной установке типа А 203.23 с RC-генератором. Профилирующим электродом была латунная проволока диаметром (d) 100 мкм. Был реализован режим одиночных разрядов. Электротехнологические характеристики процесса: емкость разрядной цепи С=2,2 мкФ, напряжение холостого хода Uxx 250 В. Пакет собирался из четырех подложек (монокристаллов SiC политипа 6Н), морфология поверхности базовых граней которых была образована взаимно пересекающимися канавками с шагом tx=ty=0,5 мм, глубиной (h) 0,3-0,35 мм. В качестве электропроводящего слоя использовался алюминий, нанесенный термовакуумным напылением. В результате эксперимента были получены структуры заданных геометрических размеров и формы.

Таким образом, предлагаемый способ позволяет
– одновременно копировать большое число структур SiC, отличающихся по политипному составу, морфологии или электрофизическим характеристикам;
– осуществлять процесс сборки (закрепления) структур (деталей) в процессе копирования;
– повысить качество поверхности кристалла SiC в области реза.

Формула изобретения


1. Способ эрозионного копирования карбидокремниевых структур, включающий создание электропроводящего слоя с проводимостью не менее 710-3 Ом-1см-1 и последующим инициированием электроискрового разряда в водной среде между полупроводниковой подложкой и металлическим электродом, отличающийся тем, что используют несколько полупроводниковых подложек, на всех поверхностях которых создают электропроводящий слой, собирают подложки в виде пакета, а электрический разряд инициируют в режиме образования расплава.

2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что перед инициированием разряда собранный пакет подложек подвергают термокомпрессии.

3. Способ по п. 1, отличающийся тем, что электрический разряд инициируют в режиме ударного разрушения.

РИСУНКИ

Рисунок 1


MM4A Досрочное прекращение действия патента Российской Федерации на изобретение из-за неуплаты в установленный срок пошлины за поддержание патента в силе

Дата прекращения действия патента: 25.07.2005

Извещение опубликовано: 7.06.2006 БИ: 18/2006


Categories: BD_2189000-2189999