Патент на изобретение №2399908
|
||||||||||||||||||||||||||
(54) СПОСОБ ОЦЕНКИ РАЗМЕРОВ ДЕФЕКТОВ В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ
(57) Реферат:
Использование: для оценки размеров дефектов в направлении просвечивания. Сущность: заключается в том, что осуществляют сравнение изображений радиографируемых на один снимок эталонных и реальных дефектов, при этом на контролируемое сварное соединение, в котором возможно наличие шлаковых включений, устанавливают, наряду с эталоном-имитатором с канавками различной ширины, но одинаковой глубины, равной предельно допустимой глубине реального пустотелого дефекта (непровары, раковины, поры), аналогичный эталон-имитатор с канавками глубиной, в 1,5 раза меньшей предельно допустимой глубины дефекта типа шлакового включения для оценки размеров в направлении просвечивания выявляемых на снимке шлаковых включений. Технический результат: повышение надежности и точности оценки размеров дефектов в направлении просвечивания.
Изобретение относится к области дефектоскопии и может быть использовано при радиографическом контроле сварных соединений. Известен способ оценки размера дефектов в направлении просвечивания, основанный на визуальном сравнении оптических плотностей изображения канавок эталона-имитатора (эталонных дефектов) и выявленных на снимке (реальных) дефектов контролируемых изделий (см. Румянцев С.В. Радиационная дефектоскопия. М., Атомиздат, 1974, стр.262-263). Способом, наиболее близким по своей технической сути заявляемому способу, принятым в качестве прототипа, является способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, основанный на визуальном или фотометрическом сравнивании оптических плотностей изображений канавок эталона-имитатора различной глубины и выявляемых на снимке дефектов сварных соединений, причем для оценки глубины Задачей, на решение которой направлено заявляемое изобретение, является снижение трудоемкости способа, повышение надежности и точности оценки размеров дефектов в направлении просвечивания. Поставленная задача решается за счет того, что в способе оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, заключающемся в сравнении изображений радиографируемых на один снимок эталонных и реальных дефектов, на контролируемое сварное соединение, в котором возможно наличие шлаковых включений, устанавливают, наряду с эталоном-имитатором с канавками различной ширины, но одинаковой глубины, равной предельно допустимой глубине реального пустотелого дефекта (непровары, раковины, поры), аналогичный эталон-имитатор с канавками глубиной, в 1,5 раза меньшей предельно допустимой глубины дефекта типа шлакового включения, который используют для оценки размеров в направлении просвечивания выявляемых на снимке шлаковых включений. Сущность заявляемого способа заключается в учете снижения контраста изображения шлакового включения, в сравнении с таким же по размерам пустотелым дефектом, из-за наличия заполняющего дефект вещества – шлака. Известно (см. Румянцев С.В. Радиационная дефектоскопия. М., Атомиздат, 1974), что снижение радиационного контраста из-за наличия вещества заполнения дефекта описывается соотношением k3=µ(µ-µд), где k3 – коэффициент, учитывающий заполнение дефекта; µ, µд – линейные коэффициенты ослабления излучения соответственно для основного металла и вещества заполнения дефекта. При этом в случае вещества заполнения плотностью k3 Полагая, что по плотности спекшийся шлак аналогичен расплавленному стеклу ( k3 Учитывая, что контраст Таким образом, при визуальной сравнительной оценке по снимку размеров Пример конкретного выполнения Заявленным способом проводилась оценка размеров дефектов в направлении просвечивания Оценка Фактические размеры Таким образом, использование при проведении оценки размеров дефектов в направлении просвечивания эталонов-имитаторов с уменьшенной в 1,5 раза от нормативного значения Изготовление пластинчатых эталонов-имитаторов со сквозными канавками определенной глубины (в том числе и в 1,5 раза уменьшенной от нормативного значения Заявленный способ применим при просвечивании сварных соединений не только на радиографическую пленку, но и на другие детекторы излучения, например, на фосфорные запоминающие пластины, используемые в методе цифровой радиографии, где оценка размера дефекта в направлении просвечивания может быть проведена путем сравнения степени потемнения (уровня серого) изображений эталонных и реальных дефектов на экране компьютера.
Формула изобретения
Способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, заключающийся в сравнении изображений радиографируемых на один снимок эталонных и реальных дефектов, отличающийся тем, что на контролируемое сварное соединение, в котором возможно наличие шлаковых включений, устанавливают, наряду с эталоном-имитатором с канавками различной ширины, но одинаковой глубины, равной предельно допустимой глубине реального пустотелого дефекта (непровары, раковины, поры), аналогичный эталон-имитатор с канавками глубиной, в 1,5 раза меньшей предельно допустимой глубины дефекта типа шлакового включения, для оценки размеров в направлении просвечивания выявляемых на снимке шлаковых включений.
|
||||||||||||||||||||||||||