|
(21), (22) Заявка: 2009108912/28, 12.03.2009
(24) Дата начала отсчета срока действия патента:
12.03.2009
(46) Опубликовано: 20.09.2010
(56) Список документов, цитированных в отчете о поиске:
SU 1679305 A1, 23.09.1991. SU 1770855 A1, 14.05.1990. SU 1239558 A1, 23.06.1986. RU 2313078 C2, 20.12.2007. JP 2000321134 A, 24.11.2004.
Адрес для переписки:
115409, Москва, Каширское ш., 31, НИЯУ МИФИ, Г.В.Бейгулу
|
(72) Автор(ы):
Громов Евгений Владимирович (RU), Котковский Геннадий Евгеньевич (RU), Мартынов Игорь Леонидович (RU), Передерий Анатолий Николаевич (RU), Сычев Алексей Викторович (RU), Тугаенко Антон Вячеславович (RU), Цыбин Александр Степанович (RU), Чистяков Александр Александрович (RU)
(73) Патентообладатель(и):
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования “Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ” (НИЯУ МИФИ) (RU)
|
(54) СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ И АНАЛИЗА ИОНОВ АНАЛИТА
(57) Реферат:
Способ получения и анализа ионов аналита в газовой фазе заключается в том, что анализируемый газ вводят в оптический резонатор, образованный интерференционными зеркалами, при этом одновременно в оптический резонатор вдоль его продольной оси от лазера с интерференционного зеркала вводят поток лазерного излучения. Частоту лазерного излучения преобразовывают нелинейным оптическим элементом до частоты оп для фотоионизации молекул аналита. В результате отражения от интерференционных зеркал оптического резонатора лазерного излучения с частотой оп обеспечивают его многократное прохождение через анализируемый газ. Образованные в результате многократного взаимодействия лазерного излучения с частотой оп с исследуемым газом ионы аналита выделяют и направляют их в дрейфовый спектрометр, откуда информационные сигналы поступают в систему регистрации и обработки. Технический результат заключается в возможности изменения и регулировки степени ионизации аналита, в регулировании и повышении чувствительности анализа ионов аналита в газовой фазе. 3 ил.
Изобретение относится к области аналитического приборостроения, к спектрометрии обнаружения паров органических веществ в составе воздуха, а также к области газового анализа для определения микроследов опасных веществ – взрывчатых веществ, наркотиков, токсичных веществ и т.п.
Известен способ анализа материалов с помощью импульсной лазерной спектроскопии, включающий фокусировку лазерного излучения на поверхности исследуемого объекта, создание плазмы с помощью лазерного импульса, исследование плазмы с помощью спектрального прибора, в котором используют импульс лазера длительностью от 5 до 5000 пс, при этом выбирают плотность мощности излучения, равную или превышающую пороговый уровень пробоя материала. Патент Российской Федерации 2312325, МПК G01N 21/63, 2005 г.
Известен способ получения и анализа ионов аналита, при котором в замкнутый или проточный объем, содержащий катод и дополнительный электрод-коллектор, направляют поток воздуха атмосферного давления, содержащий следовые количества органических молекул взрывчатых, наркотических или физиологически активных веществ. Катод выполняют из материала, содержащего, по крайней мере, одну оксидную бронзу щелочного металла и оксида переходного металла с химической формулой RxMenOm, где х=0,1-1,2; R – щелочной металл; Me – переходный металл из группы титан, ванадий, ниобий, тантал, молибден, вольфрам, рений; О – кислород, причем соединение MenOm является одним из бронзообразующих оксидов металла Me. Катод нагревают до рабочей температуры в интервале 50-500°С, прикладывают разность потенциалов между катодом и коллектором и измеряют электрический ток положительно заряженных ионов вторичных органических молекул, образовавшихся на поверхности катода в результате взаимодействия органических молекул с атомами щелочного металла на поверхности катода в условиях атмосферы воздуха. Для повышения чувствительности заявленного способа между рабочей поверхностью катода и его противоположной поверхностью прикладывают дополнительную разность потенциалов. Для расширения класса анализируемых органических молекул и повышения селективности анализа в качестве материала катода выбирают сложную оксидную бронзу. Патент Российской Федерации 2186384, МПК G01N 27/62, 2002. Способ технологически сложен, использует дорогостоящие материалы.
Известен способ получения и анализа ионов аналита, заключающийся в подаче аналита в потоке к мишени с шероховатой поверхностью, облучении лазером мишени, получении газовой фазы ионов аналита и регистрации компонента. Патент США 6825477, МПК H01J 49/00, 2004 г.
В этом техническом решении защищена нанопористая поверхность с размерами шероховатостей от 2 до 100 нм и описана возможность использования лазера и ионного масс-спектрометра для исследования параметров аналита в вакууме. Недостатком этого способа является необходимость создания вакуума и низкая чувствительность.
Известен способ получения и анализа ионов аналита, заключающийся в подаче аналита в потоке к мишени с наноструктурированной поверхностью, облучении лазером мишени, получении газовой фазы ионов аналита и регистрации компонента. Поток воздуха с примесями аналита в области наноструктурированной поверхности формируют в непрерывном режиме, периодически облучают наноструктурированную поверхность мишени импульсным лазерным лучом с плотностью мощности от 105-107 Вт/см2, с длительностью импульсов не более 10-4 с, с длиной волны от 200 нм, с частотой следования лазерных импульсов от 10 до 100 Гц, формируют электрическое поле в области наноструктурированной поверхности напряженностью не ниже 100 В/см и регистрируют спектр ионной подвижности. В процессе анализа изменяют температуру наноструктурированной поверхности мишени. Патент Российской Федерации 2346249, МПК G01J 3/00, B82B 1/00. Опублик. 2009 г. Прототип.
Недостатком прототипа является относительно невысокая эффективность получения ионов аналита из-за однократного взаимодействия потока лазерного излучения с мишенью и, как следствие, невысокая чувствительность.
Данное изобретение устраняет недостатки аналогов и прототипа.
Техническим результатом изобретения является возможность изменения степени ионизации аналита, изменение и повышение чувствительности анализа ионов аналита в газовой фазе.
Технический результат достигается тем, что в способе получения и анализа ионов аналита в газовой фазе анализируемый газ вводят в оптический резонатор, образованный интерференционными зеркалами, одновременно в оптический резонатор вдоль его продольной оси от лазера с интерференционного зеркала вводят поток лазерного излучения с частотой , которую преобразовывают нелинейным оптическим элементом до частоты оп для фотоионизации молекул аналита, при этом в результате отражения от интерференционных зеркал оптического резонатора лазерного излучения с частотой оп обеспечивают его многократное прохождение через анализируемый газ, выделяют образованные в результате многократного взаимодействия лазерного излучения с частотой оп с исследуемым газом ионы аналита и направляют их в дрейфовый спектрометр, откуда информационные сигналы поступают в систему регистрации и обработки.
Существо изобретения поясняется на фиг.1-3.
На фиг.1 для иллюстрации схематично представлено устройство для реализации способа, где 1 – импульсно-периодический лазер (с рабочей частотой излучения ); 2 – корпус оптического резонатора; 3 и 4 – интерференционные зеркала с максимальным коэффициентом отражения на измененной частоте оп; 5 – поворотное интерференционное зеркало с максимальным коэффициентом отражения на рабочей частоте излучения лазера и максимальным коэффициентом пропускания на измененной частоте оп; 6 – нелинейный оптический элемент (в частности, кристалл ВВО: ВаВ2О4 – бета-борат бария); 7 – система создания, выделения и транспортировки ионов аналита; 8 – дрейф-спектрометр; 9 и 10 – патрубки для ввода и вывода анализируемого газа соответственно; 11 – продольная ось оптического резонатора.
На фиг.2 в качестве примера реализации представлена экспериментальная зависимость амплитуды ионного сигнала тринитротолуола (ТНТ) при однократном и двукратном прохождении потока лазерного излучения через область ионизации (пик при значении рабочего параметра U=7 B).
На фиг.3 представлено расчетное распределение плотности мощности лазерного излучения в зависимости от времени с учетом характеристик оптических элементов (в приближении прямоугольной формы лазерного импульса).
Способ получения и анализа ионов аналита осуществляют следующим образом. Анализируемый газ через патрубок 9 вводят в оптический резонатор 2, образованный интерференционными зеркалами 3 и 4. Одновременно вдоль продольной оси оптического резонатора 2 от лазера с помощью поворотного интерференционного зеркала 5, выполненного с максимальным коэффициентом отражения на рабочей частоте излучения лазера и максимальным коэффициентом пропускания на измененной частоте оп, вводят вдоль оси 11 оптического резонатора 2 импульсный поток лазерного излучения 1 с рабочей частотой .
Затем нелинейным оптическим элементом 6, например кристаллом ВВО (ВаВ2О4 – бета-борат бария), изменяют рабочую частоту потока лазерного излучения 1 до величины оп, близкой к частоте фотоионизации. Эту измененную частоту оп мы назвали оптимальной.
Интерференционные зеркала 3 и 4 выполнены с максимальным коэффициентом отражения потока лазерного излучения на измененной частоте оп. Поток лазерного излучения после нелинейного оптического элемента 6 проходит систему создания, выделения и транспортировки ионов аналита 7 и дрейф-спектрометр 8, ионизует анализируемый газ. Затем поток лазерного излучения на частоте оп попадает на интерференционное зеркало 4 и отражается от него. Проходит в обратном направлении дрейф-спектрометр 8, систему создания, выделения и транспортировки ионов аналита 7, повторно ионизует анализируемый газ. Проходит нелинейный оптический элемент 6 и интерференционное зеркало 5 с максимальным коэффициентом пропускания на измененной частоте оп, и попадает на интерференционное зеркало 3, от которого отражается.
Таким образом, поток лазерного излучения неоднократно меняет направление излучения вдоль продольной оси оптического резонатора 2, неоднократно взаимодействует с анализируемым газом, каждый раз повышая степень его фотоионизации. Образованные в результате многократного взаимодействия преобразованного потока лазерного излучения с исследуемым газом ионы аналита выделяют системой 7 и направляют в дрейф-спектрометр 8, откуда информационные сигналы поступают в систему регистрации и обработки.
Апробация способа проведена при следующих условиях:
Несфокусированный поток лазерного излучения 1 с рабочей длиной волны =2с/=532 нм вводили в оптический резонатор 2 с помощью расположенного на его оси 11 под углом 45° к ней интерференционного зеркала 5, максимальный коэффициент отражения которого соответствовал длине волны 532 нм.
Нелинейный оптический элемент 6, выполненный в виде кристалла ВВО (ВаВ2О4 – бета-борат бария), изменил поток лазерного излучения 1 в излучение с меньшей длиной волны оп=2с/оп=266 нм, что соответствует оптимальному взаимодействию преобразованного потока лазерного излучения с исследуемым газом (фотоионизации исследуемых молекул аналита).
Коэффициент преобразования при этом составил менее 20%. Торцевые интерференционные зеркала 3 и 4 оптического резонатора выполнены (настроены) с максимальным коэффициентом отражения преобразованного потока лазерного излучения на волне оп=266 нм. А интерференционное зеркало 5 для преобразованного потока лазерного излучения на волне оп=266 нм практически прозрачно.
Нелинейный оптический элемент 6, выполненный в виде кристалла ВВО, имел длину 8 мм, и низкий, менее 1 см-1 коэффициент поглощения на длине волны оп=266 нм, что минимизирует энергетические потери в нем. Нелинейный оптический элемент 6 размещен максимально близко к системе создания и выделения ионов аналита 7. В связи с чем потери энергии, связанные с конструктивными ограничениями и расходимостью потока лазерного излучения, уменьшаются.
Эксперименты показали (фиг.2), что даже при двукратном прохождении потока лазерного излучения через область, занятую вводимым аналитом, наблюдается рост амплитуды сигнала, что приводит к повышению чувствительности.
Регулируя длительность взаимодействия потока лазерного излучения с материалом аналита, регулируют степень ионизации и чувствительность.
Ионный сигнал (при значении рабочего параметра U=7 В) при многократном проходе преобразованного потока лазерного излучения превышает сигнал при двух проходах примерно на 70%, а по сравнению с одним проходом превышение сигнала составляет около 170%.
Превышение интенсивности лазерной ионизации в области взаимодействия при многократном проходе луча по сравнению с одним проходом составляет около 230%. При наличии просветляющих покрытий на интерференционном зеркале 5 и на кристалле ВВО превышение интенсивности лазерной ионизации при многократном проходе лазерного луча по сравнению с однократным проходом и использовании непросветленных элементов составляет уже около 400%.
Формула изобретения
Способ получения и анализа ионов аналита в газовой фазе, при котором анализируемый газ вводят в оптический резонатор, образованный интерференционными зеркалами, одновременно в оптический резонатор вдоль его продольной оси от лазера с интерференционного зеркала вводят поток лазерного излучения с частотой , которую преобразовывают нелинейным оптическим элементом до частоты оп для фотоионизации молекул аналита, при этом в результате отражения от интерференционных зеркал оптического резонатора лазерного излучения с частотой оп обеспечивают его многократное прохождение через анализируемый газ, выделяют образованные в результате многократного взаимодействия лазерного излучения с частотой оп с исследуемым газом ионы аналита и направляют их в дрейфовый спектрометр, откуда информационные сигналы поступают в систему регистрации и обработки.
РИСУНКИ
|
|