Патент на изобретение №2379731
|
||||||||||||||||||||||||||
(54) СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ТЕРМОСТОЙКОГО ПОЗИТИВНОГО ФОТОРЕЗИСТА
(57) Реферат:
Изобретение относится к способу получения термостойкого позитивного фоторезиста, который используется в качестве защитного покрытия и межслойной изоляции в многоуровневых электронных приборах и устройствах. Сущность способа получения позитивного термостойкого фоторезиста заключается в поликонденсации дихлорида изофталевой кислоты со смесью 3,3′-дигидрокси-4,4′-диаминодифенилметана и бис-(3-аминопропил)диметилсилоксана в амидном растворителе при соотношении аминных компонентов от 9:1 до 1:9 мол.%. Раствор светочувствительного компонента
Изобретение относится к способам получения термостойкого позитивного фоторезиста, который используется для защиты интегральных схем и межслойной изоляции. Известен способ получения термостойкого позитивного фоторезиста, включающий конденсацию 2,4-диоксибензофенона с формальдегидом и далее с нафтохинондиазидо-(2)-5-сульфохлоридом и введение продукта конденсации в крезолформальдегидную смолу новолачного типа, содержащую кремнийорганический блок сополимер лапрола с полиалкилсилоксаном для обеспечения микрошероховатости пленки фоторезиста не более 10 нм. Для улучшения адгезии фоторезиста к поверхности подложки на последнюю наносят слой кремнийорганического соединения, например гексаметилдисилазана. Полученный фоторезист обладает термостойкостью при 160-200°С и высокой адгезией как к металлическим, так и кремнийсодержащим подложкам [SU Известный способ получения термостойкого позитивного фоторезиста обладает существенными и очевидными недостатками: низкая адгезия пленок, сформированных из термостойкого фоторезиста, к кремнийсодержащим субстратам, таким как диоксид и нитрид кремния, что значительно понижает надежность при формировании и дальнейшей эксплуатации высокотермостойкого фоторельефа, большая разница в коэффициентах термического расширения кремнийсодержащего субстрата и пленки. Такая разница приводит к растрескиванию пленки при проведении термогетероциклизации при повышенных температурах, что снижает выход годных структур (микросхем). Технической задачей и положительным результатом заявляемого способа является повышение надежности при формировании высокоразрешенного термостойкого позитивного микрорельефа на смешанных субстратах, в том числе и кремнийсодержащих, с использованием заявляемого термостойкого позитивного фоторезиста, что позволяет применять его в качестве защитного покрытия и межслойной изоляции в многоуровневых микроэлектронных приборах и устройствах, требующих повышенной термостойкости. Сущность способа получения термостойкого позитивного фоторезиста заключается в осуществлении поликонденсации дихлорида изофталевой кислоты и 3,3′-дигидрокси-4,4′-диаминодифенилметана в амидном растворителе с содержанием влаги 0.03-0.04 мас.%, использование 1.05-1.07 г-мол. дихлорангидрида изофталевой кислоты из расчета на 1 г-мол. аминных компонент, дополнительное введение в реакционный раствор по поликонденсации 0.05-0.07 г-мол. о-аминофенола, 2-х г-мол. эпихлоргидрина, по окончании реакции поликонденсации добавление в полимерный раствор В данном процессе соотношение 3,3′-дигидрокси-4,4′-диаминодифенилметана и бис-(3-аминопропил)диметилсилоксана выбирают в пределах от 9:1 до 1:9 мол.%. Также в данном процессе
Одним из основных преимуществ способа является введение светочувствительного компонента непосредственно в реакционный раствор после завершения реакции поликонденсации. Использование смеси 3,3′-дигидрокси-4,4′-диаминодифенилметана и бис-(3-аминопропил)диметил-силоксана при проведении реакции поликонденсации позволяет получать поли(о-гидроксиамид) с кремнийсодержащими фрагментами, что значительно расширяет области применения фоторезиста на его основе за счет расширения ассортимента субстратов для формирования микрорельефного изображения. Наряду с металлическими поверхностями и поликором его можно использовать и для кремнийсодержащих субстратов: диоксида и нитрида кремния, ситалла, различных марок стекла, кварца. Выбрано оптимальное соотношение аминов, позволяющее получить поли(о-гидроксиамид), который обладает высокой адгезией как к металлам, так и к кремнийсодержащим субстратам, что делает его применимым для подложек с различными типами и плотностью металлических разводок. В заявляемом способе получения термостойкого фоторезиста исключена операция по переосаждению сополимера из смеси органических растворителей, светочувствительный компонент вводится непосредственно в реакционный раствор после завершения поликонденсации. Кремнийсодержащий поли(о-гидроксиамид) хорошо совмещается с продуктами присоединения хлористого водорода к эпихлоргидрину и Пример 1. Получение фоторезиста по предлагаемому способу. а) Получение поли(о-гидроксиамида) из дихлорида изофталевой кислоты и 3,3′-дигидрокси-4,4′-диаминодифенилметана и бис-(3-аминопропил)диметил-силоксана. 0.6 г-мол. 3,3′-дигидрокси-4,4′-диаминодифенилметана и 0.4 г-мол. бис-(3-аминопропил)диметил-силоксана растворяют в 11.2 г-мол. диметилацетамида, содержащего не более 0.035% влаги при комнатной температуре. Смесь перемешивают при комнатной температуре 1 ч, после чего охлаждают до 0-(-5°С) и к охлажденному раствору при перемешивании в течение 5-7 мин добавляют 1.06 г-мол. тщательно измельченного дихлорида изофталевой кислоты с такой скоростью, чтобы температура реакционной массы не поднималась выше 40°С. По окончании добавления дихлорида изофталевой кислоты реакционную массу перемешивают 4 ч при комнатной температуре, затем к ней добавляют 0.06 г-мол. о-аминофенола, перемешивают 1 ч, после чего охлаждают до 0-(-5°С), по каплям в течение 30 мин добавляют 2 г-мол. свежеперегнанного эпихлоргидрина и перемешивают полимерный раствор при комнатной температуре 2 ч. Приведенная вязкость 0.5%-ного раствора кремнийсодержащего поли(о-гидроксиамида) при данном соотношении аминных компонентов (II) и (III) в концентрированной серной кислоте составляет 0.5 дл/г. б) Получение фоторезиста. К 425 в.ч. полученного реакционного полимерного раствора добавляют при перемешивании 18 в.ч. – удельное объемное сопротивление – 1015 Ом·см; – диэлектрическая проницаемость – 3.5-4.5 при 106 Гц; – тангенс угла диэлектрических потерь – 2·10-3-2·10-2; – пробивное напряжение – не менее 400 В (для пленки 1.5 мкм). Пример 2. Получение фоторезиста проводят аналогично примеру 1, но соотношение 3,3′-дигидрокси-4,4′-диаминодифенилметана и бис-(3-аминопропил)диметил-силоксана при получении кремнийсодержащего поли(о-гидроксиамида) составляет 10:1. Термостойкость и физические параметры термозадубленных пленок сохраняются, но адгезия к кремнийсодержащим подложкам понижается. При проявлении отслаивается до 20% пленки. Пример 3. Получение фоторезиста проводят аналогично примеру 1, но соотношение 3,3′-дигидрокси-4,4′-диаминодифенилметана и бис-(3-аминопропил)диметил-силоксана при получении кремнийсодержащего поли(о-гидроксиамида) составляет 1:10. Термостойкость и физические параметры термозадубленных пленок сохраняются, однако вязкость получаемого лака значительно ниже, толщина пленок составляет менее 1 мкм, малое содержание фрагментов с гидроксильными группами не обеспечивает получение высокоразрешенного микрорельефа при проявлении. Таким образом, высокотермостойкий позитивный фоторезист, получаемый по предлагаемому способу, надежно обеспечивает формирование высокоразрешенного позитивного микрорельефа на смешанных субстратах, в том числе кремнийсодержащих, и может быть использован в качестве защитного покрытия и межслойной изоляции в многоуровневых микроэлектронных приборах и устройствах.
Формула изобретения
1. Способ получения позитивного термостойкого фоторезиста, включающий поликонденсацию 1,05-1,07 г-мол. дихлорида изофталевой кислоты со смесью 3,3′-дигидрокси-4,4′-диаминодифенилметана и бис-(3-аминопропил)диметилсилоксана при их мольном соотношении от 9:1 до 1:9 в амидном растворителе с содержанием влаги не более 0,035 мас.%, с последующим введением в реакционный раствор 0,05-0,07 г-мол. о-аминофенола и 2 г-мол. эпихлоргидрина и добавлением в полученный при этом раствор кремнийсодержащего поли(о-гидроксиамида) 2. Способ по п.1, отличающийся тем, что соотношение аминосодержащих соединений в фоторезисте выбирают: 0,6 г-мол. 3,3′-дигидрокси-4,4′-диаминодифенилметана и 0,4 г-мол. бис-(3-аминопропил)диметилсилоксана. 3. Способ по п.1, отличающийся тем, что кремнийсодержащий поли(о-гидроксиамид) и
|
||||||||||||||||||||||||||

,
1825425, G03F 7/00, 1996]. Данный способ является наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату.