|
(21), (22) Заявка: 2006134430/06, 27.09.2006
(24) Дата начала отсчета срока действия патента:
27.09.2006
(43) Дата публикации заявки: 10.04.2008
(46) Опубликовано: 20.12.2008
(56) Список документов, цитированных в отчете о поиске:
K.A.BROWN, I.H.CHIANG, D.GASSNER et al. A scanning Target Profile Monitor, Proc. of 1997, с.2149-2151. SU 1292469 A1, 15.12.1992. SU 1685172 A1, 23.03.1993. SU 931018 A1, 07.08.1983. US 2004199150 A1, 07.10.2004. WO 03101538 A1, 11.12.2003. JP 1115371 A, 08.05.1989.
Адрес для переписки:
142281, Московская обл., г. Протвино, ул. Победы, 1, ФГУП Государственный научный центр РФ Институт физики высоких энергий
|
(72) Автор(ы):
Афонин Александр Гаврилович (RU), Баранов Владимир Тимофеевич (RU)
(73) Патентообладатель(и):
Федеральное Государственное Унитарное предприятие Государственный научный центр Российской Федерации Институт физики высоких энергий (RU)
|
(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПРОФИЛЯ ПУЧКА НА УСКОРИТЕЛЯХ
(57) Реферат:
Изобретение относится к ускорительной технике и предназначено для измерения профиля пучка в ускорителях элементарных частиц. В способе измерения профиля пучка ускорителя используется система отклонения пучка, тонкая измерительная мишень и детектор вторичного излучения. Перемещение пучка во времени через неподвижную мишень обеспечивается с помощью нарастающего во времени магнитного поля. Магнитное поле создается изменением тока в отклоняющих магнитах. Изобретение направлено на упрощение механических приводов, обеспечивающих перемещение мишени внутри вакуумной камеры ускорителя. 2 ил.
Изобретение относится к ускорительной технике и может быть использовано для измерения профиля пучка (плотности распределения) в ускорителях элементарных частиц.
При измерении профиля пучка на ускорителях применяются устройства с использованием механических приводов для пересечения пучка тонкой мишенью. Аналогом предлагаемого изобретения является устройство, предложенное в работе (Ch.Steinbach, M.van Roij. A scanning Wire Beam Profile Monitor, IEEE Transactions on Nuclear Science. Vol.NS-32, N5, oct.1985).
Наиболее близким прототипом данного изобретения является профилометр, описанный в докладе (K.A.Brown, I.H.Chiang, D.Gassner et al. A scanning Target Profile Monitor, Proc. of РАС 97, pp.2149-2151). В этом профилометре информация о профиле получается путем использования быстрого перемещения тонкой мишени через циркулирующий протонный пучок и регистрации вторичных частиц, образующихся при его взаимодействии с веществом мишени. Время пересечения мишенью пучка ограничивается обеспечением ее сохранности из-за теплового разогрева и возможного разрушения. Минимальная скорость перемещения мишени при этом определяется интенсивностью циркулирующего пучка, его размерами, а также теплофизическими свойствами вещества мишеней и обычно составляет 4-20 м/с. Как правило, измерение профиля осуществляется путем измерения потока вторичных частиц, образовавшихся в мишени. Недостатком сканирующих профилометров является необходимость использования сложных механических приводов, обеспечивающих перемещение мишени внутри вакуумной камеры ускорителя. Кроме того, использование механических приводов приводит к некоторой нелинейности скорости перемещения мишени из-за необходимости разгона и торможения мишени.
Основой предлагаемого способа измерения профиля является использование магнитного поля для отклонения и пересечения пучком стационарно установленной мишени. При этом измерительная мишень внутри вакуумной камеры фиксируется на определенной координате вблизи траектории пучка и остается неподвижной при магнитном отклонении пучка. Скорость пересечения пучком измерительной мишени будет определяться фронтами нарастания магнитного поля в отклоняющих устройствах и определяется как магнитными свойствами отклоняющих устройств, так и нарастанием тока в этих устройствах.
Сущность изобретения поясняется фиг.1, где показан первичный пучок 1-1-1 и отклоненный пучок 1-2-1. Отклонение производится с помощью дополнительных магнитов 3 для создания требуемой формы локального искажения орбиты. Здесь же приведено расположение измерительной мишени в виде тонкой нити 4 и детектора 5, обеспечивающих проведение соответствующих измерений профиля циркулирующего пучка. Положение мишени показано на фиг.1 в момент прохождения через нее пучка.
Поставленная цель для проведения соответствующих измерений предлагаемым способом на протонном синхротроне У-70 Института физики высоких энергий (ИФВЭ) достигается разработкой устройства, состоящего из системы локального искажения орбиты, обеспечивающей заброс пучка на поглотитель, тонкой измерительной мишени и сцинтилляционного детектора. Система локального искажения орбиты позволяет отклонять пучок на поглотитель, стенки которого являются элементом вакуумной камеры ускорителя. Эта система обеспечивает на У-70 скорость наведения пучка 2,7 м/с, что достаточно для обеспечения измерений профиля циркулирующего пучка при проведении физических экспериментов на ускорителе. Измерительная мишень устанавливается на трассе пучка вблизи поглотителя с учетом реальных размеров пучка.
Осциллограмма профиля пучка, полученная описываемым способом, представлена на фиг.2. Здесь луч 1 – это сигнал сцинтилляционного детектора, установленного вблизи мишени, а луч 2 – осциллограмма напряжения с измерительного шунта в источнике питания отклоняющих магнитов, обеспечивающих смещение пучка на расстояние, необходимое для пересечения пучком измерительной мишени.
Предлагаемый способ измерения профиля пучка отличатся сравнительной простотой. На ускорителе У-70 он позволил разработать устройство для измерения профиля пучка на основе тонкой измерительной мишени, сцинтилляционного детектора и существующей системы локального искажения орбиты.
Формула изобретения
Способ измерения профиля пучка ускорителя, использующий систему отклонения пучка, тонкую измерительную мишень и детектор вторичного излучения, отличающийся тем, что перемещение пучка во времени через неподвижную мишень обеспечивается с помощью нарастающего во времени магнитного поля, создаваемого изменением тока в отклоняющих магнитах.
РИСУНКИ
|
|