Патент на изобретение №2315979

Published by on




РОССИЙСКАЯ ФЕДЕРАЦИЯ



ФЕДЕРАЛЬНАЯ СЛУЖБА
ПО ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНОЙ СОБСТВЕННОСТИ,
ПАТЕНТАМ И ТОВАРНЫМ ЗНАКАМ
(19) RU (11) 2315979 (13) C1
(51) МПК

G01N23/18 (2006.01)

(12) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К ПАТЕНТУ

Статус: по данным на 08.11.2010 – действует

(21), (22) Заявка: 2006115392/28, 04.05.2006

(24) Дата начала отсчета срока действия патента:

04.05.2006

(46) Опубликовано: 27.01.2008

(56) Список документов, цитированных в отчете о
поиске:
RU 2240538 C2, 20.11.2004. SU 1536215 A1, 15.01.1990. RU 2243541 C2, 27.12.2004. JP 8203691 A, 09.08.1996. JP 61155843 A, 15.07.1986. US 6157699 A, 05.12.2000.

Адрес для переписки:

196651, Санкт-Петербург, Колпино, пр. Ленина, 1, ОАО “Ижорские заводы”, патентно-лицензионный отдел, В.И. Гребенюку

(72) Автор(ы):

Зуев Вячеслав Михайлович (RU),
Капустин Виктор Иванович (RU),
Табакман Рудольф Леонидович (RU)

(73) Патентообладатель(и):

Открытое акционерное общество “Ижорские заводы” (RU)

(54) СПОСОБ РАДИОГРАФИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ

(57) Реферат:

Использование: для радиографического контроля изделий. Сущность изобретения заключается в том, что на контролируемое изделие устанавливают образцы-имитаторы с канавками и отверстиями одинаковой глубины dэт.д, но различной ширины (диаметра) при этом

длина канавок канавки и отверстия попарно соответствуют по ширине и диаметру, замеряют по полученному снимку длину lр.д и ширину и bр.д выявленных реальных дефектов и определяют с помощью фотометрирования для эталонных и реальных дефектов с шириной изображения не менее требуемой чувствительности контроля k, мм, величины где D – контраст изображения дефекта, D – коэффициент контрастности радиографической пленки, после этого подбирают значение эталонного дефекта, соответствующего по ширине b и длине l рассматриваемому реальному дефекту, затем определяют величину dр.д, используя выражение где k3=1 – для пустотелых дефектов и k3=/(д)/(д) – для дефектов с заполнением(шлак); , д; , д – соответственно линейные коэффициенты ослабления излучения и плотности для основного металла и вещества заполнения дефекта, после чего делают вывод о допустимости или недопустимости выявленного реального дефекта на основании полученных значений lр.д, bр.д, dр.д, сравниваемых с соответствующими нормативными значениями. Технический результат: повышение надежности и точности определения размеров выявляемых на радиографических снимках дефектов контролируемых изделий. 1 табл., 6 ил.

Изобретение относится к области дефектоскопии и может быть использовано при радиографическом контроле сварных соединений, наплавок и основного металла изделий.

Известен способ радиографического контроля, предусматривающий использование эталонов с канавками различной глубины для оценки по снимку чувствительности контроля (см. ГОСТ 7512-82).

Способом, наиболее близким по своей технической сути заявляемому, является способ радиографического контроля кольцевых сварных соединений трубопроводов, включающий оценку по снимку величины вогнутости и выпуклости корня сварного шва путем визуального или фотометрического сравнения оптических плотностей изображений вогнутости (выпуклости) и канавки (выступа) образца-имитатора, установленного на контролируемое сварное соединение (см. ПНАЭ Г-7-017-89 Приложение 2).

Задачей, на решение которой направлено заявляемое изобретение, является повышение надежности и точности определения размеров выявляемых на радиографических снимках дефектов контролируемых изделий.

Поставленная задача решается за счет того, что в способе радиографического контроля, включающем радиографирование на один снимок эталонных и реальных дефектов и фотометрирование полученных изображений, выполняют следующие операции:

1) на контролируемое изделие устанавливают образцы-имитаторы с канавками и отверстиями одинаковой глубины dэт.д, но различной ширины (диаметра) bэт.д кан при этом длина канавок lэт.д кан10 мм и канавки и отверстия попарно соответствуют по ширине (диаметру);

2) замеряют по снимку длину lр.д и ширину bр.д выявленных реальных дефектов;

3) определяют с помощью фотометрирования для эталонных и реальных дефектов с шириной изображения не менее требуемой чувствительности контроля k, мм, величины где D – контраст изображения дефекта, D – коэффициент контрастности радиографической пленки;

4) подбирают значение эталонного дефекта, соответствующего по ширине b и длине l рассматриваемому реальному дефекту, для чего при bр.дbэ.д и lр.д.lэт.д замеренные значения интерполируют по ширине (диаметру) отдельно для канавок и отдельно для отверстий, а полученные интерполированием по b значения интерполируют по l, учитывая условие

5) определяют величину dр.д, используя выражение где k3=1 – для пустотелых дефектов и k3=/(д)/(д) – для дефектов с заполнением (шлак);

, д; , д – соответственно линейные коэффициенты ослабления излучения и плотности для основного металла и вещества заполнения дефекта, при этом для радиографических пленок, у которых DkD, где k=const, вместо величин D/D используют величины D/Dф, где Dф, – оптическая плотность фона снимка;

6) делают вывод о допустимости или недопустимости выявленного реального дефекта на основании полученных значений lр.д, bр.д, dр.д, сравниваемых с нормативными значениями lнорм, bнорм, dнорм, при этом для дефекта с шириной изображения bр.дdр.д не проводится и дефект по параметру d классифицируется как недопустимый.

Сущность изобретения поясняется рисунками, таблицами, графиками.

На фиг.1 показана схема просвечивания сварного соединения – а и схематичное изображение радиографического снимка с выявленными дефектами – б.

На фиг.2 представлен эскиз образцов-имитаторов для оценки размера дефекта в направлении просвечивания.

На фиг.3 представлена таблица рекомендуемых размеров образцов-имитаторов.

На фиг.4 представлены зависимости величины отношения отверстие/канавка контраста D/D канавок и отверстий одинаковой ширины bкан=отв и одинаковой глубины dкан=dотв от поперечного размера эталонного дефекта (a, б) и зависимости контраста D/D изображения прямоугольной канавки шириной b от длины l канавки – (в, г): и – эталоны со стороны источника, п – эталоны со стороны пленки; а, б: 1 – Up.т=200 кВ, d=20 мм; 2 – Ir192, d=20 мм; 3 – Up.т=400 кВ, d=60 мм; 4 – Co60, d=100 мм; 5 – 8 МэВ, d=200 мм;

На фиг.5 представлены зависимости D/D=f(b-1) для прямоугольной канавки (эталон со стороны источника излучения):

1 – Up.т=100 кВ, d=3 мм, d=1 мм;

2 – Up.т=200 кВ, d=20 мм, d=5 мм;

3 – Up.т=400 кВ, d=80 мм, d=10 мм;

На фиг.6 представлены зависимости коэффициента контрастности (6а) и контраста изображения дефекта (цилиндрическое отверстие =5 мм и глубиной d=2 мм) (6б) от оптической плотности снимка (фона) для радиографических пленок типа D4 и D7.

Пример конкретного использования заявляемого способа радиографического контроля.

Заявляемым способом радиографического контроля проводился контроль сварного соединения толщиной d=30 мм – см. фиг.1. Параметры просвечивания соответствовали требованиям ГОСТ 7512-82. Просвечивание проводилось рентгеновским аппаратом МГ-420 при напряжении на рентгеновской трубке Uр.т=300 кВ с фокусного расстояния 800 мм на радиографическую пленку типа D4. Чувствительность контроля k=пр.эт min=0,4 мм. На сварное соединение со стороны источника излучения устанавливались образцы-имитаторы с канавками и отверстиями глубиной d=2 мм – эталоны №2 – см. фиг.2 и фиг.3. На полученном снимке были выявлены дефекты (см. фиг.1б): непровары – 1, 2, 3, пора – 4 и шлаковое включение 5.

С целью определения допустимости выявленных дефектов измерялись по снимку (масштабная линейка, мерительная лупа) длина lр.д и ширина bр.д реальных дефектов и фотометрически (денситометр “Хеллинг-301”) оценивался их размер в направлении просвечивания dр.д.

Нормативные максимально допустимые размеры дефектов:

Непровары – dH норм=10%d, lH норм=30 мм;

поры, шлак – dП.Ш. норм=10%d, П норм=3 мм, lШ норм=15 мм

(ширина bН,П,Ш не регламентируется).

Замеренные линейные размеры дефектов составили:

дефект 1 (непровар): bH1=3,2 мм, lH1=11 мм;

дефект 2 (непровар): bH2=0,7 мм, lH2=12 мм;

дефект 3 (непровар): bH3=(0,2-0,3) мм, lH3=10 мм;

дефект 4 (пора): П4=1,5 мм;

дефект 5 (шлак): bШ5=4,2 мм, lШ5=6 мм.

При фотометрической оценке размера dН,П,Ш учитывалась зависимость контраста D/D от длины дефекта (см. фиг.4) наряду с зависимостью D/D от ширины b дефекта в условиях малой геометрической нерезкости uг (см. фиг.5). При этом принимался во внимание экспериментально установленный факт, что зависимость D/D=f(l) имеет место при соотношении l/b3 и не наблюдается при l/b>3 и l10 мм (указанная зависимость связана с влиянием нерезкости рассеяния up>>uг).

В рассматриваемом примере использовалась радиографическая пленка типа D4, для которой в рабочем диапазоне оптической плотности D=1-4 коэффициент контрастности DkD, где k=const, что позволяет вместо сравнения величин D/D эталонных и реальных дефектов сравнивать фотометрически замеряемые величины D/Dф (см. фиг.6).

Замеренные значения D/Dф реальных дефектов составили:

дефект 1 (непровар): 0,090;

дефект 2 (непровар): 0,090;

дефект 3 (непровар): D/Dф не определялось;

дефект 4 (пора): 0,095;

дефект 5 (шлак): 0,060.

Замеренные значения D/Dф эталонных дефектов глубиной d=2 мм составили:

– отверстия: =0,5 мм – 0,025; =1 мм – 0,040; =2 мм – 0,060; =5 мм – 0,075;

– канавки: b=0,5 мм – 0,040; b=1 мм – 0,055; b=2 мм – 0,070; b=5 мм – 0,080.

Соответствующие ширине bр.д реальных дефектов значения D/Dф эталонных дефектов определяются линейным интерпорированием по b():

– отверстия: =0,7 мм – 0,031; =1,5 мм – 0,050; =3,2 мм – 0,066; =4,2 мм – 0,071;

– канавки: b=0,7 мм – 0,046; b=1,5 мм – 0,077; b=3,2 мм – 0,074; b=4,2 мм – 0,077.

Соответствующие ширине bр.д и длине lр.д реальных дефектов значения (D/Dф]эт.д о определяются следующим образом:

– длина дефектов 1 и 2 – lр.д>10 мм, что обуславливает возможность их сравнения с эталонными канавками длиной lэт.д>10 мм без интерполирования по l значений контраста (длина канавок эталона №2 – 20 мм) и, следовательно, (D/Dф)эт.д o(H1)=0,074, (D/Dф)эт.д o(H2)=0,046;

– пора 4 с диаметром изображения П=1,5 мм сравнивается с эталонным отверстием эт.д=1,5 мм и, соответственно, (D/Dф) эт.д о(П4)=0,050;

– длина дефекта 5 – lШ5=6 мм<10 мм и менее 3b=12,6 мм, что обуславливает необходимость интерполировать по l значения D/Dф отверстий и канавок шириной (диаметром) b()=4,2 мм, соответственно, после интерполяции

Полагая, что дефекты 1, 2, 3, 4 (непровары, пора) являются пустотелыми, т.е. коэффициент k3 Н,П=1, а шлаковое включение (дефект 5) в стали (ст=7,8 г/см3) заполнено шлаком плотностью ш=2,3 г/см3, т.е. k3 Шст/(стш)=(7,8/(7,8-2,3)1,4, и используя выражение

dр.д=k3[(D/D)р.д/(D/D)эт.д o]dэт.д=k3[(D/Dф)р.д/(D/Dф)эт.д o]dэт.д,

получим следующие значения размера дефекта в направлении просвечивания dр.д:

дефект 1 (непровар): (0,090/0,074)×22,4 мм;

дефект 2 (непровар): (0,090/0,046)×24,0 мм;

дефект 3 (непровар): не определялся;

дефект 4 (пора): (0,095/0,050)×23,8 мм;

дефект 5 (шлак): (0,060/0,073)×1,4×22,2 мм.

Согласно указанным выше нормативам (dН,П,Ш норм=10%d=3 мм) дефекты 1 и 5 являются допустимыми, дефекты 2 и 4 – недопустимыми. Размер dр.д дефекта 3 (непровара) не определялся вследствие малой ширины изображения bD) и, соответственно, дефект 3 классифицируется как недопустимый по размеру d.

При оценке размера dр.д без учета различия в ширине сравниваемых реальных и эталонных дефектов, что имеет место в применяемом в практике радиографического контроля методе дефектометров (сравнение оптической плотности изображений реальных дефектов и канавок различной глубины, но одинаковой ширины стандартного эталона), возможны значительные погрешности, например, при оценке глубины непровара 2 по эталонной канавке, используемой для оценки глубины непровара 1 (bкан4 мм), не допустимый по параметру d дефект 2 был бы классифицирован как допустимый (D/Dф Н1=D/Dф Н2=0,090), т.к. его оценочный размер был бы dН2=dН12,4 мм.

В то же время даже сравнение эталонных и реальных дефектов одинаковой ширины, но без учета различия в их длине, также может приводить к существенной погрешности в оценке размера dр.д. Например, при оценке dП4 вертикально (по сечению) вытянутой поры 4 с диаметром изображения =1,5 мм путем сравнения с эталонной канавкой (lкан10 мм) той же ширины (bкан=1,5 мм) ее оценочный размер будет dП4=(0,095/0,077)×22,5 мм, т.е. недопустимая по размеру d пора будет классифицирована как допустимая.

Таким образом, предложенное использование при радиографическом контроле образцов-имитаторов одновременно с канавками и отверстиями одинаковой глубины, но различной и при этом попарно соответствующей ширины (диаметра) и соответствующий учет влияния на контраст изображения сравниваемых эталонных и реальных дефектов как ширины, так и длины дефекта позволяет повысить точность определения по снимку размера в направлении просвечивания дефектов сварки и надежность оценки качества сварных изделий.

Формула изобретения

Способ радиографического контроля, включающий радиографирование на один снимок эталонных и реальных дефектов и фотометрирование полученных изображений, отличающийся тем, что на контролируемое изделие устанавливают образцы-имитаторы с канавками и отверстиями одинаковой глубины dэт.д, но различной ширины (диаметра) при этом длина канавок lэт.д кан10 мм и канавки и отверстия попарно соответствуют по ширине (диаметру), замеряют по полученному снимку длину lр.д и ширину bр.д выявленных реальных дефектов и определяют с помощью фотометрирования для эталонных и реальных дефектов с шириной изображения не менее требуемой чувствительности контроля k, (мм) величины где D – контраст изображения дефекта, D – коэффициент контрастности радиографической пленки, после этого подбирают значение эталонного дефекта, соответствующего по ширине b и длине l рассматриваемому реальному дефекту, для чего при bр.дbэ.д и lр.д.lэт.д замеренные значения интерполируют по ширине (диаметру) отдельно для канавок и отдельно для отверстий, а полученные интерполированием по b значения интерполируют по l, учитывая условие затем определяют величину используя выражение где k3=1 – для пустотелых дефектов и k3=/(д)/(д) – для дефектов с заполнением (шлак); , д; , д – соответственно линейные коэффициенты ослабления излучения и плотности для основного металла и вещества заполнения дефекта, при этом для радиографических пленок, у которых DkD, где k=const, вместо величин D/D используют величины D/Dф, где Dф, – оптическая плотность фона снимка, после чего делают вывод о допустимости или недопустимости выявленного реального дефекта на основании полученных значений lр.д, bр.д, сравниваемых с соответствующими нормативными значениями, при этом дефекты с шириной изображения bр.д без проведения оценки по снимку этого дефекта.

РИСУНКИ

Categories: BD_2315000-2315999