|
(21), (22) Заявка: 2004112850/06, 26.04.2004
(24) Дата начала отсчета срока действия патента:
26.04.2004
(43) Дата публикации заявки: 20.10.2005
(46) Опубликовано: 27.11.2006
(56) Список документов, цитированных в отчете о поиске:
DAVIS H.A., et. al. “Characterization and modeling of the ablation plumes formed by intense-pulsed ion beam impact on solid targets”. Journal of applied physics. 1999, vol. 85, № 2, p.713-721. SU 797530 A1, 07.02.1984. SU 708942 A1, 07.06.1981. JP 6151100 А, 31.05.1994.
Адрес для переписки:
634050, г.Томск, пр. Ленина, 2а, ГНУ “НИИ ВН при ТПУ”, патентно-информационный отдел
|
(72) Автор(ы):
Исаков Иван Фалалеевич (RU), Лопатин Валерий Степанович (RU), Макеев Вячеслав Анатольевич (RU), Ремнев Геннадий Ефимович (RU), Степанов Андрей Владимирович (RU), Фурман Эдвин Гугович (RU), Тарбоков Владислав Александрович (RU)
(73) Патентообладатель(и):
Государственное научное учреждение “Научно-исследовательский институт высоких напряжений при Томском политехническом университете” (RU)
|
(54) ИОННЫЙ ДИОД С ВНЕШНЕЙ МАГНИТНОЙ ИЗОЛЯЦИЕЙ
(57) Реферат:
Изобретение относится к области ускорительной техники. Сущность изобретения: ионный диод с внешней магнитной изоляцией содержит кольцевой анод и цилиндрические катоды, две концентрические согласно включенные катушки, размещенные за внешним и внутренним радиусами цилиндрических катодов, и импульсные источники питания. Эмиссионная поверхность анода снабжена кольцевыми канавками с диэлектрическим покрытием или диэлектрическими вставками. Анод выполнен из высокопроводящего материала, а числа витков в обмотках W1 и W2 и центры радиусов их ампервитков R1 и R2 расположены симметрично относительно эмиссионной поверхности анода и соотносятся как W1·R1=W2·R2. Преимущества изобретения заключаются в повышении стабильности генерируемых импульсов. 2 з.п. ф-лы, 5 ил.
Изобретение относится к ускорительной технике и предназначено для генерации ионных пучков с последующим их использованием для модификации поверхности различных материалов, генерирования нейтронных вспышек и т.д.
К недостаткам этих устройств относится то, что повторяемость и стабильность параметров генерируемого ионного пучка от импульса к импульсу определяется однородностью инжекции газовой струи относительно поверхности анода или однородностью образования плазмы при поверхностном пробое диэлектрика анода, требуется синхронизация во времени многих процессов и исполнительных механизмов, что снижает надежность этих устройств.
Недостатком данного ионного диода является неоднородность образованной плазмы в радиальном сечении диода и значительная локальная эрозия поверхности диэлектрика по краям анода т.к. плазма на поверхности диэлектрика образуется в основном за счет скользящего разряда, инициируемого при бомбардировке диэлектрической вставки анода электронами, эмитированными с острых краев катодных колец. КПД прототипа не превышает 15-25%. Кроме того, при данном способе плазмообразования требуются дополнительные меры по обеспечению повышенной точности установки диодного зазора для обеспечения однородности плазмы в азимутальном направлении.
Основным техническим результатом изобретения является повышение стабильности генерируемых импульсов ионного тока за счет более равномерного плазмообразования на поверхности анода и увеличение КПД преобразования электрической энергии, запасенной в накопителе, в кинетическую энергию ионного пучка. Предложенный ионный диод позволяет по сравнению с прототипом увеличить КПД не менее чем до 60%.
Технический результат предложенного решения достигается тем, что в ионном диоде с внешней магнитной изоляцией, содержащем кольцевой анод и цилиндрические катоды, две концентрические согласно включенные катушки, размещенные за внешним и внутренним радиусами цилиндрических катодов, и импульсные источники питания, согласно предложенному решению эмиссионная поверхность анода снабжена кольцевыми канавками с диэлектрическим покрытием или диэлектрическими вставками, анод выполнен из высокопроводящего материала, а числа витков в обмотках W1 и W2 и центры радиусов их ампервитков R1 и R2 расположены симметрично относительно эмиссионной поверхности анода и соотносятся как W1·R1=W2·R2.
Кроме того, поверхность анода с диэлектрическим покрытием образует сферическую поверхность с центром на оси симметрии ионного диода и содержит больше двух концентрических катушек, равномерно распределенных вдоль эмиссионной поверхности анода.
Целесообразно цилиндрические катоды снабжать короткозамкнутыми витками из материала с высокой электропроводностью, причем за короткозамкнутыми витками расположена сетка или радиально стоящие пластины по сечению ионного пучка.
Пример конкретного выполнения
На фиг.1 приведено осевое сечение конического ионного диода с внешней магнитной изоляцией, на фиг.2 – осевое сечение сферического ионного диода, на фиг.3 – ход силовых линий магнитного поля без проводящих короткозамкнутых магнитных витков (экранов) и при их наличии, а также распределение силовых линий электрического поля при отсутствии облака электронов и его наличии в анод-катодном промежутке, на фиг.4 – приведены эпюры напряжения и токов, на фиг.5 – фотография катодного узла со стороны анода.
Ионный диод (фиг.1) состоит из кольцевого анода 1, который выполнен из материала с высокой электрической проводимостью: меди, алюминия; кольцевой анод 1 снабжен кольцевыми канавками, залитыми диэлектриком 2, образующим эмиссионную поверхность ионного диода, кольцевой анод 1 с кольцевым электродом 3 крепится к высоковольтному электроду 4 ускорителя. Напротив кольцевого анода расположены катоды: внешний 5 и внутренний 6, выполненные из материала с большим удельным сопротивлением: титана, нихрома, нержавеющей стали. Внешний катод 5 крепится к опорному диску 7, а внутренний 6 с помощью шпилек 8 и короткозамкнутого кольца 9, диска 10 из хорошо проводящего материала также крепится к опорному диску 7.
Катушки для создания магнитного поля: внешняя 11 и внутренняя 12 расположены в диэлектрических каркасах 13 и 14. Вывод обмотки внутренней катушки 12 имеет контакт с катодом 6, а другой вывод обмотки через полую шпильку 8 подключен к обмотке внешней катушки 11, второй вывод которой идет к импульсному источнику питания, ток которого создает магнитное поле. Ионный диод помещен в вакуумную камеру 15, относительно которой крепится опорный диск 7 и обеспечиваются цепи токов катодов 5, 6. На короткозамкнутом кольце 9 устанавливается сетка 16 с высокой геометрической прозрачностью, которая перекрывает сечение ионного пучка. На фиг.1 дополнительно обозначено: Z – ось симметрии ионного диода; Z1 – оптическая ось ионного пучка, R1, R2 – радиусы центров ампервитков обмоток катушек 11 и 12; d – положение кромки катода 5 относительно эмиссионной поверхности анода 1; F0, F1, F2, F3 – фокусные расстояния; – угол при вершине конуса, образуемого ионным пучком.
При применении сферического ионного диода (фиг.2) оптическая ось ионного пучка направлена по радиусу R и фокус F0 выражен в точку на оси Z, а поверхность анода имеет сферическую форму. Для формирования более равномерной плотности линий магнитного поля вдоль сферической поверхности анода в плоскости симметрии R устанавливается дополнительная катушка в слабопроводящих экранах – катодах или несколько катушек симметрично относительно плоскости симметрии R ионного пучка. Этим обеспечивается большая площадь эмиссионной поверхности и равномерность распределения плотности тока по сечению генерируемого ионного пучка.
На фиг.3 показан ход силовых линий магнитного поля 17 (пунктирные линии) катушек 11, 12 в свободном от проводящих поверхностей пространстве, а при наличии проводящего анода и короткозамкнутых витков 9, 10 силовыми линиями 18. Пунктирными линиями 19 показано распределение силовых линий напряженности электрического поля при отсутствии электронного облака, а сплошными линиями 20 – при наличии электронного облака дрейфующих электронов 21 (заштрихованная область) между силовыми линиями магнитного поля 18. 22 – следы дрейфующих электронов на диэлектрике каркаса 13, 14 катушек 11, 12. Кружками 23 показано направление токов в катушках 11,12, а 24 – в теле анода 1 и короткозамкнутых кольцах 9, 10. Vi – направление скорости ионов.
На фиг.4 приведены эпюры напряжения на аноде 25 и токов: 26 – общего тока ускорителя, 27 – ионного тока диода. Кривой Uxx показан потенциал анода в режиме холостого хода.
Принцип работы ионного диода с внешней магнитной изоляцией следующий: на последовательно согласно включенные катушки 11 и 12 подается импульс напряжения, например, путем разряда емкости. При достижении величины тока в катушках 11, 12, достаточной для обеспечения условия
 dA-K,
где – толщина слоя, в котором электроны движутся при наличии скрещенных электрического и магнитного полей,
dA-K – зазор между анодом и катодом;
подается импульс высокого напряжения на анод от высоковольтного генератора ускорителя.
Величина А определяется из выражения:

где – толщина электронного слоя,
me – масса электрона,
В – индукция магнитного поля в области дрейфа,
E – напряженность электрического поля,
VII – составляющие скорости электрона в направлении векторов В и E в момент инжекции из взрывоэмиссионной плазмы.
В момент времени t1 происходит взрывная эмиссия с острых кромок катодов 5, 6 и электроны взрывоэмиссионной плазмы начинают дрейфовать в плоскости силовых линий магнитного поля 18 параллельно поверхности кольцевого анода 1. Ток ионного диода до момента времени t2 имеет только емкостную составляющую, связанную с накоплением заряда в электронном облаке 21, напряжение на кольцевом аноде 1 повышается в условиях, близких к холостому ходу ускорителя (импеданс нагрузки значительно превышает выходное волновое сопротивление высоковольтного генератора ускорителя). Напряженность электрического поля растет и увеличивается толщина слоя дрейфующих электронов. Электроны движутся в слое, параллельном кольцевому аноду 1, со средней скоростью V=Е /В по циклоидам, вершины которых направлены в сторону эмиссионной поверхности кольцевого анода 1, и в момент времени t2 начинают касаться диэлектрика и кольцевых выступов металла кольцевого анода 1, нарабатывая плазму. Чередование областей диэлектрика и металла при наличии кольцевых канавок на поверхности анода на пути дрейфа электронов способствует более однородному плазмообразованию по всей поверхности кольцевого анода 1. При этом скорость электронов направлена по касательной к поверхности кольцевого анода 1 и равна 2V.
В интервале времени t3-t2 генератор ускорителя нагружается током ионов, которые также начинают дрейфовое движение со скоростью V=Е /В, но при этом их ларморовый радиус в mi/me раз больше, чем у электронов. В промежутке d, который является расстоянием от поверхности кольцевого анода 1 до центра тяжести заряда дрейфующих электронов, происходит ускорение ионов. Направление дрейфовой скорости ионов такое же, как и у электронов, но направления отклонения вершин циклоид ионов и электронов противоположны, и ускорение ионов происходит практически по силовым линиям электрического поля 19 на небольшом отрезке кривой, описываемой ларморовым радиусом ионов.
Появление тока переноса в ионном диоде вызывает падение напряжения на внутреннем сопротивлении импульсного источника питания, напряжение 25 перестает расти, электроны не достигают поверхности кольцевого анода 1 и диодный промежуток, образованный поверхностной плотностью положительных зарядов на кольцевом аноде 1 и объемной плотностью электронов в области толщиной , загружается только ионным током с плотностью согласно

где
0=8,85·10-12 Ф/м;
е – элементарный заряд (заряд электрона),
mi – масса иона,
Z – кратность ионизации,
U – потенциал анода,
d – ускоряющий промежуток.
Таким образом, образуется жесткая отрицательная обратная связь между количеством нарабатываемых ионов и импедансом высоковольтного источника.
При уменьшении ионного тока потенциал анода снова возрастает, так как уменьшается падение напряжения на внутреннем сопротивлении высоковольтного генератора ускорителя, электроны снова начинают достигать анода и нарабатывать ионы и т.д. При прохождении электронного облака ионы захватывают электроны, компенсируют свой заряд и движутся в дальнейшем по баллистической траектории. В среднем влияние магнитного поля в предлагаемом диоде скомпенсировано, так как заряженные частицы проходят силовые линии магнитного поля со скоростью Vi в разных направлениях, фиг.3.
Электроны в электронном облаке 21 захватываются ионным пучком, часть электронов из облака, расталкивающегося собственным объемным зарядом, стекает по силовым линиям магнитного поля 18, осаждается на диэлектрик 13, 14 (поверхность 22) и стекает на заземленные экраны 9, 10. В течение длительности импульса высокого напряжения от генератора ускорителя электроны в дрейфующем облаке 21 восполняются за счет взрывной эмиссии с острых кромок катодов 5, 6, обращенных к кольцевому аноду 1.
За экранами, которыми являются короткозамкнутые кольца 9, 10, магнитное поле катушек 11, 12 практически отсутствует. С целью полной компенсации объемного заряда ионного пучка устанавливается заземленная сетка 16 высокой прозрачности или металлические пластины. За счет потери части пучка ионов из материала сетки выбиваются электроны (примерно 15-30 электронов на один «погибший» ион) и происходит полная компенсация объемного заряда ионного пучка в области, свободной от внешних электрических и магнитных полей, что позволяет иметь баллистическую фокусировку ионного пучка в фокусе F0.
В ионном диоде, (фиг.1), для обеспечения хода силовых линий параллельно поверхности анода 1 необходимо, чтобы векторный магнитный потенциал катушек 11 и 12 был равным относительно оси Z1 и эмиссионной поверхности анода 1, что выполняется, если числа витков W1 и W2 в обмотках 11 и 12 и центры их ампервитков R1, R2, расположенных симметрично относительно эмиссионной поверхности анода, соотносятся как W1·R1=W2·R2. В этом случае в фокусах F0, F1, F2 будет сплошной ионный пучок с равномерной плотностью тока по сечению пучка. Причем плотность тока в фокусе F0 максимальна и достигает значения где j – плотность тока согласно (2), Sa – площадь эмиссионной поверхности анода, равная с наружным радиусом RH и внутренним RB, S0 – площадь пятна в фокусе. Размещая в фокусе F02, F3
В сферическом ионном диоде с внешней магнитной изоляцией, фиг.2, наряду с баллистической фокусировкой используется электростатическая фокусировка непосредственно в ускоряющем промежутке, и в фокусе F0 плотность ионного тока может быть повышена в 102-103 раз по сравнению с (2). В фокусе F1
Если в качестве диэлектрика 2 использовать полиэтилен, у которого водород замещен дейтерием, то произойдет получение ионного пучка дейтерия, который можно использовать для генерации нейтронных вспышек на мишени из трансурановых элементов или перенасыщенных нейтронами ядрах, например бериллий , а помещая в фокусе F0 дейтерий-тритивые мишени, иметь нейтроны термоядерного синтеза.
Рассмотренный выше ионный диод с внешней магнитной изоляцией по схеме фиг.1 при потенциале на аноде 400 кВ, с выходным волновым сопротивлением источника напряжения ускорителя 40 Ом, длительности импульса 60 нс, обеспечивал КПД формирования ионного пучка более 60% от энергии, запасенной в формирующей линии ускорителя (наносекундном генераторе). При площади анода 80 см2 (RH=80 мм, RB-55 мм) в фокусе F0 при угле =60° и диаметре пучка в фокусе 4 см получена плотность ионного тока 600 А/см2. На создание внешнего магнитного поля требовалась энергия 300 Дж, что обеспечивал емкостной накопитель емкостью 20·10-6 Ф при напряжении 6 кВ. При этом в свободном от проводящих поверхностей анода 1 индукция магнитного поля 17, фиг.3, была более чем в два раза ниже, чем при наличии анода 1, и силовые линии магнитного поля 18 располагались параллельно эмиссионной поверхности анода.
На фиг.5 приведена фотография катодного узла со стороны анода после более чем 103 срабатываний с параметрами, указанными выше. Отчетливо виден след 22 от выталкиваемых электронов из облака 21 на поверхности диэлектрика 13. Второй след 22 с кромки катода 5 минует диэлектрик 14 и попадает на опорный диск 7 согласно ходу силовых линий магнитного поля.
Таким образом, повышение стабильности тока генерируемых импульсов и КПД преобразования электрической энергии в кинетическую энергию ионного пучка свыше 60% достигается за счет повышения однородности плазмообразования и жесткой обратной связи между величиной электронной компоненты полного тока в ионном диоде при наработке плазмы симметрично по всей эмиссионной поверхности анода и подавления электронной компоненты полного тока диода в ускоряющем зазоре в процессе ускорения ионов. Это позволяет исключить дополнительные схемы и устройства для предварительной наработки плазмы и обеспечить наиболее благоприятные условия для выполнения «закона 3/2» (1) – т.е. для заданного потенциала U иметь наименьшую величину ускоряющего зазора d путем его регулирования величиной и скоростью нарастания магнитного поля от одного источника, используя индуцированные токи в теле анода и короткозамкнутых экранах.
Формула изобретения
1. Ионный диод с внешней магнитной изоляцией, содержащий кольцевой анод и цилиндрические катоды, две концентрические согласно включенные катушки, размещенные за внешним и внутренним радиусами цилиндрических катодов, и импульсные источники питания, отличающийся тем, что эмиссионная поверхность анода снабжена кольцевыми канавками с диэлектрическим покрытием или диэлектрическими вставками, анод выполнен из высокопроводящего материала, а числа витков в обмотках W1 и W2 и центры радиусов их ампервитков R1 и R2 расположены симметрично относительно эмиссионной поверхности анода, и соотносятся как
W1·R1=W2·R2.
2. Ионный диод по п.1, отличающийся тем, что поверхность анода с диэлектрическим покрытием образует сферическую поверхность с центром на оси симметрии ионного диода и содержит больше двух концентрических катушек, равномерно распределенных вдоль эмиссионной поверхности анода.
3. Ионный диод по п.1 или 2, отличающийся тем, что цилиндрические катоды снабжены короткозамкнутыми витками из материала с высокой электропроводностью, причем за короткозамкнутыми витками расположена сетка или радиально стоящие пластины по сечению ионного пучка.
РИСУНКИ
|
|