Патент на изобретение №2253125
|
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛЬНО НЕСТАБИЛЬНЫХ ТРАНЗИСТРОВ
(57) Реферат:
Использование: в микроэлектронике на этапе серийного производства полупроводниковых изделий, а также на входном контроле при производстве радиоаппаратуры. Сущность изобретения: в способе определения потенциально нестабильных транзисторов, после предварительных результатов испытаний для каждого типа транзисторов проводят испытания на стабильность в постоянном режиме измерения коэффициента усиления по току в течение 20-30 минут, по результатам которых судят о стабильности транзисторов. Техническим результатом изобретения является сокращение времени испытаний при отсутствии воздействия током стрессовой плотности. 4 табл.
Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к обеспечению качества и надежности транзисторов за счет определения потенциально нестабильных транзисторов. Изобретение может быть использовано на этапе серийного производства полупроводниковых изделий, а также на входном контроле при производстве радиоаппаратуры. Наиболее близким аналогом являются способ [1], применяемый для разделения партии транзисторов, состоящий в том, что на транзисторы в процессе испытаний воздействуют импульсом тока высокой плотности и проводят отбраковку транзисторов по величине токов утечки. Недостатки данного способа: необходимость испытания приборов током стрессовой плотности, приводящая к снижению надежности испытуемых транзисторов, и продолжительное время испытаний. Изобретение направлено на устранение указанных недостатков, а именно: в предлагаемом способе отсутствует воздействие током стрессовой плотности, а время испытаний значительно сокращено. Это достигается тем, что в предлагаемом способе определения потенциально нестабильных транзисторов измерения токов утечки до и после испытаний заменены неоднократным измерением коэффициента усиления по току h21э в процессе испытаний. Способ осуществляют следующим образом. В процессе испытаний транзисторов проводятся десятикратные измерения коэффициента усиления по току через 2 мин для маломощных и средней мощности транзисторов и через 5 мин для мощных транзисторов. Если коэффициент усиления h21э при этих измерениях стабилен с точностью до ±2 единиц, то проводятся испытания в режиме контроля h21э в течение 20-30 мин с регулярной фиксацией значения h21э, по которым судят о стабильности транзисторов. Для каждого типа транзисторов предварительно устанавливают критерий стабильности по параметру h21э при испытаниях. В качестве примера приведем реализацию данного способа на партиях транзисторов типа КТ209Е (маломощный), КТ814Г (средней мощности) и КТ819Г (мощный). На первом этапе все транзисторы при десятикратном последовательном измерении параметра h21э имеют стабильные значения (в пределах ±2 единиц). На втором этапе транзисторы испытывались в течение 20 мин и данные представлены в табл.1-3. Коэффициент стабильности значений параметра h21э, определенный из формулы
Из табл. 4 видно, что для транзисторов КТ209Е можно установить величину k=1,0; для транзисторов КТ814Г – k=1,25; для транзисторов типа KT819r – k=1,0. Видно, что наименьшую стабильность имеют транзисторы типа КТ814Г и при испытаниях имеются катастрофические отказы. По-видимому, партия транзисторов, из которой взята выборка, не прошла ЭТТ в процессе серийного производства. ИСТОЧНИКИ ИНФОРМАЦИИ 1. Патент РФ №2098839 С2, G 01 R 31/26, 31/28, 1997. 2. Горлов М.И., Ануфриев Л.Н., Бордюжа О.Л. Обеспечение и повышение надежности полупроводниковых приборов и интегральных схем в процессе серийного производства – Минск: Интеграл, 1997, 390 с.
Формула изобретения
Способ определения потенциально нестабильных транзисторов, заключающийся в измерении коэффициента усиления по току, отличающийся тем, что после предварительных результатов испытаний для каждого типа транзисторов проводят испытания на стабильность в постоянном режиме измерения коэффициента усиления по току в течение 20-30 мин, по результатам которых судят о стабильности транзисторов.
MM4A – Досрочное прекращение действия патента СССР или патента Российской Федерации на изобретение из-за неуплаты в установленный срок пошлины за поддержание патента в силе
Дата прекращения действия патента: 28.10.2005
Извещение опубликовано: 20.06.2007 БИ: 17/2007
|
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
