Патент на изобретение №2249224

Published by on




РОССИЙСКАЯ ФЕДЕРАЦИЯ



ФЕДЕРАЛЬНАЯ СЛУЖБА
ПО ИНТЕЛЛЕКТУАЛЬНОЙ СОБСТВЕННОСТИ,
ПАТЕНТАМ И ТОВАРНЫМ ЗНАКАМ
(19) RU (11) 2249224 (13) C1
(51) МПК 7
G01R29/24
(12) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К ПАТЕНТУ

Статус: по данным на 27.01.2011 – прекратил действие

(21), (22) Заявка: 2003125349/28, 20.08.2003

(24) Дата начала отсчета срока действия патента:

20.08.2003

(45) Опубликовано: 27.03.2005

(56) Список документов, цитированных в отчете о
поиске:
Арсентьев Ю.Д., Марцинкявичус В.А., Пронин В.П. и др. Дефектоскопия. 1981, №5, с.79-84. SU 1187650 А1, 23.08.1989. RU 2031482 A1, 20.03.1995.
SU 1497593 А, 30.07.1989. SU 822705 А, 27.08.1996.

Адрес для переписки:

410012, г.Саратов, ул. Московская, 155, СГУ, ПЛО, Н.В. Романовой

(72) Автор(ы):

Пронин В.П. (RU),
Михайлов Б.А. (RU)

(73) Патентообладатель(и):

Пронин Виталий Петрович (RU),
Михайлов Борис Александрович (RU)

(54) ЭЛЕКТРОЕМКОСТНЫЙ ЗОНДОВЫЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ СЛОЕВ НА ПРОВОДЯЩЕЙ ПОДЛОЖКЕ

(57) Реферат:

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к средствам определения электрофизических параметров диэлектрических композиционных слоев на проводящей подложке, а также к способам измерения плотности электростатического заряда материалов. Технический результат – расширение функциональных возможностей. Для достижения данного результата осуществляют формирование на поверхности слоя электростатического заряда, измерение его плотности в разные моменты времени. При этом формирование заряда осуществляют в локальной области слоя известной толщины, измеряют величину электростатического заряда q1 и q2 при двух известных расстояниях до поверхности слоя h1 и h2, причем на одном из этих расстояний измерения поводят в различные моменты времени, а относительную диэлектрическую проницаемость слоя и его проводимость определяют расчетным путем.

Изобретение относится к средствам определения электрофизических параметров диэлектрических, высокоомных композиционных слоев на проводящей подложке, а также к способам измерения плотности электростатического заряда материалов.

Известен способ неразрушающего контроля, заключающийся в наложении зонда, на контролируемую поверхность материала с последующим измерением в его цепи индуцированного заряда (напряжения) при возбуждении поля с помощью проводящей подложки и генератора переменного напряжения (М.: Высшая школа, 1992, под редакцией В.В.Сухорукова. 5 книга 312 с., 3 книга 37 с.).

Недостатком является кортактность, что может повредить слой. Определяется комплексная диэлектрическая проницаемость только при высоких значениях потерь. Данный способ не позволяет сканировать поверхность исследуемого материала.

Известен также зондовый способ определения электрофизических параметров материалов, заключающийся в том, что в процессе измерений зонд располагается на некотором расстоянии от поверхности исследуемого материала. В этом случае электрическое поле в системе также возбуждается с помощью подложки и генератора переменного напряжения, а индуцированный заряд (напряжение) измеряются в цепи зонда (см. Матис И.Г. Электоремкостные преобразователи для неразрушающего контроля. Рига.: 3инатые, 1982. – 302 с.).

Однако при конечном значении расстояния от зонда до исследуемой поверхности исключается возможность определения проводимости слоя, поскольку удельное сопротивление между зондом и поверхностью слоя на несколько порядков больше удельного сопротивления этого слоя 1015-1016 Ом/м.

Недостатком этого способа является невозможность определения диэлектрической проницаемости, т.к. определяется только удельная проводимость (сопротивление) слоя и не учитывается влияние его соседних областей.

Задачей настоящего изобретения является расширение функциональных возможностей данного способа – определение, кроме удельного сопротивления (проводимости) слоя, также его диэлектрической проницаемости.

Поставленная задача решается тем, что в электроемкостном зондовом способе определения электрофизических параметров слоев на проводящей подложке, включающем формирование на поверхности слоя электростатического заряда, измерение его плотности в разные моменты времени, согласно решению заряд создают в локальной области (порядка 1 мм2) слоя известной толщины Н, измеряют величины электростатического заряда q1 и q2 при двух известных расстояниях до поверхности слоя h1 и h2, причем на одном из этих расстояний измерения поводят в два разных момента времени t1 и t2, а относительную диэлектрическую проницаемость слоя и его проводимость вычисляют из соотношений:

=H· q/q1· h1-q2· h2,

=( · 0/ t)· ln(q1/q2)=(H· 0)/ t· (q1· h1-q2· h2)· ln(q1/q2),

где q=q1-q2,

t=t2-t1,

0=8.85· 10-12 Ф/м.

Способ осуществляется следующим образом. Наносят заряд, например, в поле коронного заряда с острия, радиус закругления которого 20-50 мкм, расположенного на расстоянии 0.5-1 мм от слоя. Область нанесения заряда лежит в пределах 0.5-2 мм2. На определенном расстоянии h1 порядка 0.5-1 мм сканируют слой зондом и измеряют максимальную величину индуцированного на зонде заряда q1. Затем на этом же расстоянии измеряют величину заряда q2 в другой момент времени, такой, чтобы величина q была уверенно измеряемой. Для этого разность времен измерений t=t2-t1 должна быть значительно меньше времени релаксации заряда на слое. Далее перемещают зонд на другое расстояние h2 порядка соответственно 1-1.5 мм и измеряют величину индуцированного на зонде заряда q2 в момент времени, близкий к t2, что обеспечивается относительно быстрым переходом с одного расстояния на другое (время перехода 0.1-10 с в зависимости от времени релаксации заряда.) Возможна реализация способа, когда на расстоянии h1 измеряют распределение заряда в один момент времени, затем переходят на второй уровень и измерения проводят в два момента времени. Затем по указанным выше соотношениям определяют искомые параметры.

Формула изобретения

Электроемкостный зондовый способ определения электрофизических параметров слоев на проводящей подложке, включающий формирование на поверхности слоя электростатического заряда, измерение его плотности в разные моменты времени, отличающийся тем, что заряд создают в локальной области слоя известной толщины Н, измеряют величину электростатического заряда q1 и q2 при двух известных расстояниях до поверхности слоя h1 и h2, причем на одном из этих расстояний измерения проводят в два разных момента времени t1 и t2, а относительную диэлектрическую проницаемость слоя и его проводимость вычисляют из соотношений

=H· q/q1· h1-q2· h2,

=( · 0/ t)· ln(q1/q2)=(H· 0)/ t· (q1· h1-q2· h2)· ln(q1/q2),

где q=q1-q2,

t=t2-t1,

0=8,85· 10-12 Ф/м.


MM4A Досрочное прекращение действия патента Российской Федерации на изобретение из-за неуплаты в установленный срок пошлины за поддержание патента в силе

Дата прекращения действия патента: 21.08.2005

Извещение опубликовано: 27.01.2007 БИ: 03/2007


Categories: BD_2249000-2249999